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手持式四探針測試儀MHY-25846
  • 手持式四探針測試儀MHY-25846
  • 手持式四探針測試儀MHY-25846

    產品報價: 面議
    品  牌:北京美華儀科技有限公司
    產品型號:MHY-25846
    適用范圍:高教 職教 基教
    所在地區:北京
    應用學校:北京大學
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    詳細說明

      手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:MHY-25846

      手持式四探針測試儀MHY-25846

      概述

      MHY-25846型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.HAD 標準。

      儀器成套組成:由MHY-25846主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。

      儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉換量程可選;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!

      探頭選配:根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

      詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊進入

      儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。

      儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。 

      三、基本技術參數

      1. 測量范圍、分辨率

      電    阻:     0.010 ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ~ 10 Ω

      電 阻 率:     0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD

      方塊電阻:     0.050~ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ~ 10 Ω/□ 

      2. 可測材料尺寸

      手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:

      直    徑:HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130HADHAD。

      HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。

      長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.

      測量方位: 軸向、徑向均可.

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